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先进连接材料在芯片封装测试中的创新应用

作者:正泰通N10276 合金板 发布时间:2025-10-23 15:16:48

信息摘要:

芯片封装测试对连接材料的性能要求严格。特种金属材料通过其优异的特性,确保封装质量和测试可靠性。

芯片封装测试是确保芯片性能和可靠性的关键环节,在这个环节中,各种连接材料发挥着至关重要的作用。从芯片粘接到引线键合,从封装密封到测试连接,每个步骤都需要特定的材料技术支持。

先进连接材料在芯片封装测试中的创新应用

TA18钛丝在精密连接部件中表现突出。这种近α型钛合金具有优良的强度和塑性配合,适用于芯片封装中的特殊连接件和结构件。我们通过精密拉拔和热处理工艺,确保钛丝具有均匀的直径和稳定的力学性能。

先进连接材料在芯片封装测试中的创新应用

钛管件GR5在特种气体输送中发挥关键作用。这种α-β型钛合金具有优良的耐腐蚀性能和足够的强度,适用于高纯气体输送系统和特殊介质管路。我们通过精密的成形和焊接技术,确保管件具有可靠的气密性。

弹簧钢65Mn在测试探针中展现卓越性能。这种锰弹簧钢具有高的弹性极限和良好的疲劳性能,适用于芯片测试探针、连接器等弹性元件。我们通过严格的热处理控制,确保材料获得最佳的弹性性能。

先进连接材料在芯片封装测试中的创新应用

我们高度重视连接材料的可靠性和一致性,通过完善的质量控制体系和精密的检测手段,确保每批材料都满足芯片封装测试的严格要求。